服务介绍
解决方案
芯片电性能测试
数字、模拟和数模混合集成电路等芯片测试环境，芯片内部分析、芯片电学性能分析
芯片老化测试
高低温和老化试验、温度试验、湿热试验、特殊试验、长期储存寿命和长期工作寿命实验和加速寿命实验
ESD测试
包括HBM，CDM，Latch-up，TLP
可靠性测试
包括HTOL，高低温箱，TC，HAST，THB等
其它服务
TEM（透射电镜）、FIB-CKT（线路修补）、Thermal、ATE LB、可靠性板设计制作、快速封装等
